高靈敏電致發光效率測試系統

簡要描述:LQ-50X 高靈敏電致發光效率測試系統 擁有以下幾點特色:采用單光子偵測技術、NIR 增強光學設計與組件、簡便的設計可與手套箱直接整合,能解決目前LED發展所面臨的挑戰。

  • 產品型號:LQ-50X
  • 廠商性質:生產廠家
  • 更新時間:2023-03-01
  • 訪  問  量: 931

詳細介紹

品牌其他品牌價格區間面議
測量模式交流產地類別進口
應用領域能源,電子全向式收光系統50mm積分球

光焱科技 LQ-50X 高靈敏電致發光效率測試系統 介紹

目前 LED 發展所面臨的挑戰包含:

(1) 新型態的 LED 具備低亮度 (< 50000 cd/m2)、衰減快的特性

(2) 發光半寬(FWHM)較傳統 LED 小 (OLED~100 nm; PVSK LED~50 nm)

(3) 非朗伯體 (Non-Lambertian) 分布,使得輝度 (cd/m2) 換算 EQE 時誤差很大

(4) 發光波長超過視函數波段 (可見光范圍),無法以光通量與輝度評價


其中「衰減快」與「紅外發光的準確評價」,是與轉換效率高低最息息相關,因此光焱科技推出 LQ-50X,采用單光子偵測技術、NIR 增強光學設計與組件并擁有簡便的設計可與手套箱直接整合。


特色

LQ-50X 高靈敏電致發光效率測試系統 的特色如下:


*采用單光子偵測技術,克服傳統光譜儀在低亮度需要長曝光時間 (1~3秒) 的特征,加快測試速度,以確保測試的準確性與高效率。

*采用 NIR 增強光學設計與組件,使其涵蓋波長可達到 1100 nm,更可擴展到 1700 nm。

*設計簡便,并且可與手套箱直接整合,同時對于各種樣品形式都可以做很好的適配。


LQ-50X 可快速測試每個電壓下的發光光譜,并可取得輻照度、輝度、CIE坐標等多項參數值,實測無機 LED 測試量測不重復性小于 0.2 %。

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LQ-50X 為 NIST 溯源,與國外校正的白光與綠光 LED 比對,差異值小于 0.5 %。

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規格

標準配置:

*全向式收光系統 (50 mm 積分球)

*增強型多信道光譜儀測試系統

*探針系統

*量測軟件

*工控機與屏幕


選配規格:

*紅外光譜擴充模塊 (900 – 1700 nm)

*手套箱整合套件


應用范圍

LQ-50X 高靈敏電致發光效率測試系統 可用于:

*Perovskite LED / Perovskite Laser Diode

*Organic IR LED

*QD LED / QD Laser Diode

*VESEL Laser Diode

實證

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量測結果總覽


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