光焱科技圖像傳感器測試儀

簡要描述:光焱科技SG-A CMOS圖像傳感器測試儀是商用CMOS圖像傳感器測試儀,可以提供全面的CMOS圖像傳感器參數表征。被測設備可以是幾種類型的CMOS圖像傳感器模塊。檢驗程序符合EMVA 1288標準。因此,可用于進行晶圓級光學檢測、加工參數控制、微透鏡設計、微透鏡驗證。SG-A CMOS圖像傳感器測試儀的高度準直光束(<1°)可以克服傳統光學系統(如積分球系統)無法解決的新制造工藝的檢測困難。

  • 產品型號:SG-A
  • 廠商性質:生產廠家
  • 更新時間:2023-08-17
  • 訪  問  量: 1647

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詳細介紹

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全光譜的波長范圍300-1100nm或350-1000nm(PTC)動態范圍80dB、100dB或140dB

特色

*無損光學檢測。

*高度準直梁角 /高準直波束角<0.05度 ,<0.1度 <0.5度 ,<1度,9<3度 (不同型號)

*高均勻光束點: 99%。

*光的不穩定性1%。

*高動態范圍測試能力:80dB~140dB(不同型號)。

*可以測試CMOS圖像傳感器參數。量子效率、光譜響應、系統增益、靈敏度、動態范圍、暗電流/噪聲、信噪比、飽和容量、線性誤差(LE)、DCNU(暗電流不均勻性)、PRNU(光響應不均勻性)、CRA。

*全光譜波長范圍:300nm-1100nm或350nm~1000nm(PTC)。

*波長可擴展至1700納米以上。

*DUT 封裝:CIS 模塊,PCB 板級,CIS 攝像頭,有/無微透鏡。

*SG-A和DUT之間的 “直接 “或 “握手 “通信協議。

*定制的測試夾具和平臺(手動或自動,最多6軸)。

*功能完整的分析軟件ARGUS®。

*應用:指紋識別(CIS+鏡頭,CIS+準直器,TFT陣列傳感器)CIS的微透鏡設計,晶圓級光學檢測,CIS DSP芯片算法開發,Si TFT傳感器面板,飛行時間相機傳感器,接近傳感器(量子效率,靈敏度,線性度,SNR等),d-ToF傳感器,i-ToF傳感器,多光譜傳感器,環境光傳感器(ALS),指紋顯示(FoD)傳感器。

系統設計


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規格



光焱科技SG-A CMOS圖像傳感器測試儀的功能好,因此相關的規格和配件也很齊全。更多細節可再了解。


以下是主要的能力規格:


– 全光譜的波長范圍:300-1100nm350-1000nmPTC

– 波長范圍可以擴展到1700 nm或更高

– 單一波長源:470nm、530nm、630nm、940nm(±5nm),或自定義

– 動態范圍:80dB、100dB140dB

– 測試夾具:DUT100mm x 100mm x 30mm(高度)[基本型]或定制

– 平臺:非、手動3軸,或6軸(手動+自動)平臺(可定制)

應用范圍

光焱科技SG-A CMOS圖像傳感器測試儀可用于:

*指紋識別(CIS+鏡頭、CIS+準直器、TFT-陣列傳感器)

*CIS的微透鏡設計,晶圓級光學檢查

*CIS DSP 芯片的算法開發

*Si TFT 傳感器面板

*飛行時間相機傳感器

*近距離感應器 (量子效率、靈敏度、線性度、SNR等。)

*d-ToF傳感器、i-ToF傳感器

*多光譜傳感器

*環境光傳感器 (ALS)

*指紋顯示(FoD)傳感器




 

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