• 光焱科技REPS+與G2 Voc損耗分析儀是一個完整的系統,可以幫助科學家測量、計算和分析工作中的太陽能電池中的 Voc-loss,并為下一步的工藝改進提供思路。

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    更新日期:2023-10-02
  • 光焱科技REPS Pro太陽能電池Voc損耗分析儀是一個完整的系統,可以幫助科學家測量、計算和分析工作中的太陽能電池中的 Voc-loss,并為下一步的工藝改進提供思路。

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    更新日期:2023-10-02
  • LQ-100X-PL外部量子效率eqe,外量子效率eqe測試系統適用測試PLQY (Photoluminescence Quantum Yield, 光致發光量子產率)。 PLQY 是評價發光材料的重要指標,除了可以用來對材料進行初級分類的基本參數,且對于發光系統與其載子動力學的重要分析方法。

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    更新日期:2023-08-17
  • 在半導體器件中,不完好的結晶度往往會導致禁帶隙中的缺陷或陷阱態,這極大地影響了器件的整體光學和電學性能。由于帶隙中的吸收系數極低,產生的光電流信號也極弱。因此,需要高度靈敏的檢測系統。 Enlitech 的 FTPS 是一種高靈敏度的光電流和外量子效率 (HS-EQE) 光譜系統。它利用傅里葉變換信號處理技術來增強和突破光電流信號檢測極限。 EQE 水平可以低至 10-5%(7 個量級)*。

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    更新日期:2023-09-10
  • 光焱科技QE-R量子效率測試系統采用了高效的橢圓反射器,比傳統的球形透鏡和反射器具有更高的集光效率。且于60cm x 60cm x 60cm 的主體內集成了所有光學和機械部件,節省了大量實驗室空間,但仍保持了各種類型的太陽能電池測試夾具的靈活性。并且也提供簡單而完整的手套箱集成方案。

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    更新日期:2023-10-02
  • 光焱科技 QE-RX光伏電池效率損失分析儀 可用于高效太陽能電池研發。QE-RX 不僅可以測量 PV-EQE、反射率和 PV-IQE 數據,還可以通過結合分析軟件 SQ-JVFLA 分析 Jsc、Voc 和FF 損失。光焱在 QE-RX 內整合了三種不同的測試功能,并開發了 SQ-JVFLA 軟件,幫助用戶通過使用 Shockley-Queisser 熱極限理論分析三種不同的損失。QE-RX 是您

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